기술 개요
투명 물체에 대한 분극화-광 모니터링의 고 감도의 방법들이 개발되어져 왔다. 이러한 방법들의 주요한 특징은 정보신호에 대한 차별적인 등록을 가지는 탐침 레이저 방사의 강한 분극변조의 최초의 조합이다. 측정치들에 대한 최적의 선택으로서, 이것은 표면 분극화효과를 제거하고, 투명 물체의 조그만 내부 복굴절을 측정할 수 있게 해 준다. 문턱 감도와 일정치 않은 복굴절 측정의 분해능력은 주사(광자) 노이즈에 의해 제한되고, (1.4)*10(-4) 분 범위 내에 있다. 이 방법들은 정밀 광소자와 빛에 대해서 민감한 재료들을 조사함으로서 테스트할 수 있다. 정밀 분극화-광 측정에 대한 빛의 압착된 상태를 어떻게 이용할 것인가에 대한 이론적인 연구들이 개발되어져 왔다.기술의 개발과 신세대 광학재료와 소자의 질적인 제어.
기술 정보
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