기술 개요
1971년부터 1997년까지 지구로 귀환되는 태양 배열판 뿐만 아니라 커패시터 센서, 자료에 대한 표본을 담고 있는 분리형 전용 패널, 그리고, 소유성체 트랩을 사용하여 10~1000 mcm 이라는 기록적인 MM/T 잔해에 관한 유일한 통계 자료를 얻었다. 커패시터 센서를 통해 얻은 데이터를 이용해 장기간(수년) 또는 단기간(수일)에 걸쳐 변하는 MM/T 입자 흐름을 분석할 수 있다. X-ray 스펙트럼 분석뿐 아니라 스캐닝 전자 현미경을 이용해서 분리형 패널에 재료 표본과 입자 트랩을 노출시켜서 생긴 분화구 모양의 구멍들을 분석함으로써 MM/T 입자의 일반적인 흐름으로부터 기술적인 요소들을 식별해낼 수 있다.ISS 모듈의 MM/T대한 보호의 개발과 개선을 차후 적용을 위해 통계적인 분석 결과로부터 10~1
기술 정보
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